Defect Content Estimation for Inspections: Regression and Machine Learning
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Programmstrukturen und Datenorganisation (IPD) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 2002 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | urn:nbn:de:swb:90-617555 KITopen-ID: 1000061755 |
| Veranstaltung | Motorola Global Software Group Adelaide, Australien, Januar 2002 |