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URN: urn:nbn:de:swb:90-617555

Defect Content Estimation for Inspections: Regression and Machine Learning

Padberg, Frank



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Programmstrukturen und Datenorganisation (IPD)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2002
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 1000061755
Erschienen in Motorola Global Software Group Adelaide, Australien, Januar 2002
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