KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Defect Content Estimation for Inspections: Regression and Machine Learning

Padberg, Frank


Volltext §
DOI: 10.5445/IR/1000061755
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Programmstrukturen und Datenorganisation (IPD)
Publikationstyp Vortrag
Publikationsjahr 2002
Sprache Englisch
Identifikator urn:nbn:de:swb:90-617555
KITopen-ID: 1000061755
Veranstaltung Motorola Global Software Group Adelaide, Australien, Januar 2002
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page