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Defect Content Estimation for Inspections: Regression and Machine Learning

Padberg, Frank

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Volltext §
DOI: 10.5445/IR/1000061755
Coverbild
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Programmstrukturen und Datenorganisation (IPD)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2002
Sprache Englisch
Identifikator urn:nbn:de:swb:90-617555
KITopen-ID: 1000061755
Veranstaltung Motorola Global Software Group Adelaide, Australien, Januar 2002
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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