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Integrated optics for optical coherence tomography and surface topography characterization

Freude, W.; Schneider, S.; Weimann, C.; Höller, F.; Lauermann, M.; Dietrich, P.-I.; Koos, C.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Photonik und Quantenelektronik (IPQ)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2016
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 1000061937
Erschienen in Science & Applications, Light Conference (Light Conference'16, Speakers), Changchun, China, July 4-8, 2016
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