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Dislocation Transport and Line Length Increase in Averaged Descriptions of Dislocations

Hochrainer, T.; Zaiser, M.; Gumbsch, P.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Computational Materials Science (IAM-CMS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2009
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1063/1.3241258
ISSN: 0094-243X, 1551-7616
KITopen ID: 1000062308
Erschienen in AIP conference proceedings
Band 1168
Heft 1
Seiten 1133-1136
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