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Dislocation Transport and Line Length Increase in Averaged Descriptions of Dislocations

Hochrainer, T.; Zaiser, M.; Gumbsch, P.


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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1063/1.3241258
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Zitationen: 11
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Zitationen: 10
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien – Computational Materials Science (IAM-CMS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2009
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0094-243X, 1551-7616
KITopen-ID: 1000062308
Erschienen in AIP conference proceedings
Verlag American Institute of Physics (AIP)
Band 1168
Heft 1
Seiten 1133-1136
Nachgewiesen in Dimensions
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