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Stress-Driven Oxidation Chemistry of Wet Silicon Surfaces

Colombi Ciacchi, Lucio; Cole, Daniel J.; Payne, Mike C.; Gumbsch, Peter



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Computational Materials Science (IAM-CMS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2008
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1021/jp804078n
ISSN: 1932-7447, 1932-7455
KITopen ID: 1000062313
Erschienen in The journal of physical chemistry <Washington, DC> / C
Band 112
Heft 32
Seiten 12077–12080
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