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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1016/j.ultramic.2016.07.007
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Challenges in quantitative crystallographic characterization of 3D thin films by ACOM-TEM

Kobler, A.; Kübel, C.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Karlsruhe Nano Micro Facility (KNMF)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2017
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0304-3991, 1879-2723
KITopen ID: 1000062487
HGF-Programm 43.22.01; LK 01
Erschienen in Ultramicroscopy
Band 173
Seiten 84-94
Vorab online veröffentlicht am 05.07.2016
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