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Combined Tilt- and Focal-Series Tomography for HAADF-STEM

Dahmen, Tim; Kohr, Holger; Lupini, Andrew R.; Baudoin, Jean-Pierre; Kübel, Christian; Trampert, Patrick; Slusallek, Philipp; de Jonge, Niels



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Karlsruhe Nano Micro Facility (KNMF)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2016
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1017/S1551929516000328
ISSN: 1551-9295, 2150-3583
KITopen ID: 1000062488
HGF-Programm 49.02.01; LK 02
Erschienen in Microscopy today
Band 24
Heft 03
Seiten 26–31
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