Combined Tilt- and Focal-Series Tomography for HAADF-STEM
Dahmen, Tim; Kohr, Holger; Lupini, Andrew R.; Baudoin, Jean-Pierre; Kübel, Christian
; Trampert, Patrick; Slusallek, Philipp; Jonge, Niels de
; Trampert, Patrick; Slusallek, Philipp; Jonge, Niels de
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Nanotechnologie (INT) Karlsruhe Nano Micro Facility (KNMF) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2016 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 1551-9295, 2150-3583 KITopen-ID: 1000062488 |
| HGF-Programm | 49.02.01 (POF III, LK 02) INT-KNMF Characterisation Lab |
| Erschienen in | Microscopy today |
| Verlag | Cambridge University Press (CUP) |
| Band | 24 |
| Heft | 03 |
| Seiten | 26–31 |
| Nachgewiesen in | Dimensions |