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Semantically Guided Depth Upsampling

Schneider, Nick 1; Schneider, Lukas; Pinggera, Peter; Franke, Uwe; Pollefeys, Marc; Stiller, Christoph 1
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1007/978-3-319-45886-1_4
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Zitationen: 39
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Zitationen: 52
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mess- und Regelungstechnik mit Maschinenlaboratorium (MRT)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2016
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-3-319-45885-4
ISSN: 0302-9743, 1611-3349
KITopen-ID: 1000062587
Erschienen in Pattern Recognition. Ed.: B. Rosenhahn
Verlag Springer International Publishing
Seiten 37–48
Serie Lecture Notes in Computer Science ; 9796
Nachgewiesen in Dimensions
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