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Semantically Guided Depth Upsampling

Schneider, Nick; Schneider, Lukas; Pinggera, Peter; Franke, Uwe; Pollefeys, Marc; Stiller, Christoph



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mess- und Regelungstechnik mit Maschinenlaboratorium (MRT)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2016
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1007/978-3-319-45886-1_4
ISBN: 978-3-319-45885-4
ISSN: 0302-9743, 1611-3349
KITopen ID: 1000062587
Erschienen in Pattern Recognition. Ed.: B. Rosenhahn
Verlag Springer International Publishing, Cham
Seiten 37–48
Serie Lecture Notes in Computer Science ; 9796
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