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Controlled electromigration and oxidation of free-standing copper wires

Hauser, J. S. 1; Schwichtenberg, J. 1; Marz, M. 1; Sürgers, C. ORCID iD icon 1; Seiler, A. 1; Gerhards, U. 2; Messerschmidt, F. 2; Hensel, A. 2; Dittmeyer, R. 2; Löhneysen, H. v. 3; Hoffmann-Vogel, R. 1,4
1 Physikalisches Institut (PHI), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Institut für Mikroverfahrenstechnik (IMVT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
3 Institut für Festkörperphysik (IFP), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
4 Institut für Angewandte Physik (APH), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1007/s00339-016-0600-z
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Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Physik (APH)
Institut für Festkörperphysik (IFP)
Institut für Mikroverfahrenstechnik (IMVT)
Physikalisches Institut (PHI)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2016
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0340-3793, 0721-7250, 0947-8396
KITopen-ID: 1000062689
HGF-Programm 43.21.01 (POF III, LK 01) Quantum Correlations in Condensed Matter
Erschienen in Applied physics / A
Verlag Springer
Band 122
Seiten 1068
Nachgewiesen in Dimensions
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