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Controlled electromigration and oxidation of free-standing copper wires

Hauser, J. S. 1; Schwichtenberg, J. 1; Marz, M. 1; Sürgers, C. ORCID iD icon 1; Seiler, A. 1; Gerhards, U. 2; Messerschmidt, F. 2; Hensel, A. 2; Dittmeyer, R. 2; Löhneysen, H. v. 3; Hoffmann-Vogel, R. 1,4
1 Physikalisches Institut (PHI), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Institut für Mikroverfahrenstechnik (IMVT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
3 Institut für Festkörperphysik (IFP), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
4 Institut für Angewandte Physik (APH), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)

Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Physik (APH)
Institut für Festkörperphysik (IFP)
Institut für Mikroverfahrenstechnik (IMVT)
Physikalisches Institut (PHI)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2016
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0340-3793, 0721-7250, 0947-8396
KITopen-ID: 1000062689
HGF-Programm 43.21.01 (POF III, LK 01) Quantum Correlations in Condensed Matter
Erschienen in Applied physics / A
Verlag Springer
Band 122
Seiten 1068
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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1007/s00339-016-0600-z
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Seitenaufrufe: 386
seit 28.04.2018
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