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Multiskalige Oberflächeninspektion mit Wavelets und Deflektometrie = Multiscale surface inspection using wavelets and deflectometry

Greiner, Thomas; Le, Tan-Toan; Ziebarth, Mathias 1; Heizmann, Michael 2
1 Fakultät für Informatik – Lehrstuhl IES Beyerer: Interaktive Echtzeitsysteme (Lehrstuhl IES Beyerer: Interaktive Echtzeitsysteme), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1515/teme-2015-0047
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Zitationen: 1
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Zitationen: 1
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Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Anthropomatik und Robotik (IAR)
Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2016
Sprache Deutsch
Identifikator ISSN: 0171-8096, 2196-7113, 0170-575X, 0340-4021, 0340-837X, 0365-7418
KITopen-ID: 1000062797
Erschienen in Technisches Messen
Verlag De Gruyter
Band 83
Heft 11
Seiten 617-627
Nachgewiesen in Scopus
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