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Multiskalige Oberflächeninspektion mit Wavelets und Deflektometrie = Multiscale surface inspection using wavelets and deflectometry

Greiner, Thomas; Le, Tan-Toan; Ziebarth, Mathias; Heizmann, Michael



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT)
Institut für Anthropomatik und Robotik (IAR)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2016
Sprache Deutsch
Identifikator DOI: 10.1515/teme-2015-0047
ISSN: 0171-8096, 2196-7113, 0170-575X, 0340-4021, 0340-837X, 0365-7418
KITopen ID: 1000062797
Erschienen in Technisches Messen
Band 83
Heft 11
Seiten 617-627
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