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Quantitative-phase microscopy of nanosecond laser-induced micro-modifications inside silicon

Li, Q.; Chambonneau, M.; Chanal, M.; Grojo, D.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Industriebetriebslehre und Industrielle Produktion (IIP)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2016
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1364/AO.55.009577
ISSN: 0003-6935, 1539-4522, 1540-8981
KITopen ID: 1000062923
Erschienen in Applied optics
Band 55
Heft 33
Seiten 9577-9583
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