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Quantitative-phase microscopy of nanosecond laser-induced micro-modifications inside silicon

Li, Q. 1; Chambonneau, M.; Chanal, M.; Grojo, D.
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1364/AO.55.009577
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Zitationen: 15
Dimensions
Zitationen: 15
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Industriebetriebslehre und Industrielle Produktion (IIP)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2016
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0003-6935, 1539-4522, 1540-8981
KITopen-ID: 1000062923
Erschienen in Applied optics
Verlag Optica Publishing Group (OSA)
Band 55
Heft 33
Seiten 9577-9583
Nachgewiesen in Dimensions
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