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HVDC grid protection with integrated fault categorization for selective tripping

Sander, R.; Wenig, S.; Barth, D.; Suriyah, M.; Leibfried, T.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Elektroenergiesysteme und Hochspannungstechnik (IEH)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2016
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1109/EPE.2016.7695313
ISBN: 978-90-75815-24-5
KITopen ID: 1000063666
HGF-Programm 37.06.01; LK 01
Erschienen in 18th European Conference on Power Electronics and Applications, EPE 2016 ECCE Europe; Karlsruhe; Germany; 5 September 2016 through 9 September 2016
Verlag IEEE, Piscataway (NJ)
Seiten Art.Nr. 7695313
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