Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
Publikationsjahr | 2016 |
Sprache | Englisch |
Identifikator | ISBN: 978-1-5090-1506-1 ISSN: 1942-9401 KITopen-ID: 1000063675 |
Erschienen in | 22nd International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS) : 4-6 July 2016, Hotel Eden Roc, Sant Feliu de Guixols, Catalunya, Spain |
Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
Seiten | 66-71 |
Nachgewiesen in | Dimensions Scopus |