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Normally-on SiC-JFET cascode under ZVS conditions

Haehre, K.; Lueth, T.; Denk, F.; Kling, R.; Heering, W.



Zugehörige Institution(en) am KIT Lichttechnisches Institut (LTI)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2015
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-3-8007-3924-0
KITopen ID: 1000063687
Erschienen in PCIM Europe 2015 : International Exhibition and Conference for Power Electronics, Intelligent Motion, Renewable Energy and Energy Management, Nuremberg, 19 - 21 May 2015 ; proceedings
Verlag VDE-Verl., Berlin
Seiten Art.Nr. 7149026
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