CMOS pixel sensors on high resistive substrate for high-rate, high-radiation environments
Hirono, Toko; Barbero, Marlon; Breugnon, Patrick; Godiot, Stephanie; Gonella, Laura; Hemperek, Tomasz; Hügging, Fabian; Krüger, Hans; Liu, Jian; Pangaud, Patrick; Peric, Ivan
1; Pohl, David-Leon; Rozanov, Alexandre; Rymaszewski, Piotr; Wang, Anqing; Wermes, Norbert
1 Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Pohl, David-Leon; Rozanov, Alexandre; Rymaszewski, Piotr; Wang, Anqing; Wermes, Norbert1 Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2016 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0168-9002, 1872-9576 KITopen-ID: 1000063844 |
| HGF-Programm | 54.02.03 (POF III, LK 01) ASICs und Integrationstechnologien |
| Erschienen in | Nuclear instruments & methods in physics research / A |
| Verlag | North-Holland Publishing |
| Band | 831 |
| Seiten | 94–98 |
| Bemerkung zur Veröffentlichung | Proceedings of the 10th International “Hiroshima” Symposium on the Development and Application of Semiconductor Tracking Detectors |
| Nachgewiesen in | Dimensions Scopus Web of Science |