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CMOS pixel sensors on high resistive substrate for high-rate, high-radiation environments

Hirono, Toko; Barbero, Marlon; Breugnon, Patrick; Godiot, Stephanie; Gonella, Laura; Hemperek, Tomasz; Hügging, Fabian; Krüger, Hans; Liu, Jian; Pangaud, Patrick; Peric, Ivan ORCID iD icon 1; Pohl, David-Leon; Rozanov, Alexandre; Rymaszewski, Piotr; Wang, Anqing; Wermes, Norbert
1 Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)

Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2016
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0168-9002, 1872-9576
KITopen-ID: 1000063844
HGF-Programm 54.02.03 (POF III, LK 01) ASICs und Integrationstechnologien
Erschienen in Nuclear instruments & methods in physics research / A
Verlag North-Holland Publishing
Band 831
Seiten 94–98
Bemerkung zur Veröffentlichung Proceedings of the 10th International “Hiroshima” Symposium on the Development and Application of Semiconductor Tracking Detectors
Nachgewiesen in Dimensions
Web of Science
OpenAlex
Scopus
Globale Ziele für nachhaltige Entwicklung Ziel 7 – Bezahlbare und saubere Energie

Originalveröffentlichung
DOI: 10.1016/j.nima.2016.01.088
Scopus
Zitationen: 19
Web of Science
Zitationen: 19
Dimensions
Zitationen: 18
Seitenaufrufe: 76
seit 29.06.2018
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