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CMOS pixel sensors on high resistive substrate for high-rate, high-radiation environments

Hirono, Toko; Barbero, Marlon; Breugnon, Patrick; Godiot, Stephanie; Gonella, Laura; Hemperek, Tomasz; Hügging, Fabian; Krüger, Hans; Liu, Jian; Pangaud, Patrick; Peric, Ivan ORCID iD icon 1; Pohl, David-Leon; Rozanov, Alexandre; Rymaszewski, Piotr; Wang, Anqing; Wermes, Norbert
1 Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1016/j.nima.2016.01.088
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Zitationen: 16
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2016
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0168-9002, 1872-9576
KITopen-ID: 1000063844
HGF-Programm 54.02.03 (POF III, LK 01) ASICs und Integrationstechnologien
Erschienen in Nuclear instruments & methods in physics research / A
Verlag North-Holland Publishing
Band 831
Seiten 94–98
Bemerkung zur Veröffentlichung Proceedings of the 10th International “Hiroshima” Symposium on the Development and Application of Semiconductor Tracking Detectors
Nachgewiesen in Dimensions
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