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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1016/j.ultramic.2016.12.003

Composition quantification of electron-transparent samples by backscattered electron imaging in scanning electron microscopy

Müller, E.; Gerthsen, D.



Zugehörige Institution(en) am KIT Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2017
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0304-3991, 1879-2723
KITopen ID: 1000063911
Erschienen in Ultramicroscopy
Band 173
Seiten 71–75
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