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Composition quantification of electron-transparent samples by backscattered electron imaging in scanning electron microscopy

Müller, E. ORCID iD icon 1; Gerthsen, D. 1
1 Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1016/j.ultramic.2016.12.003
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Zitationen: 10
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Zitationen: 8
Dimensions
Zitationen: 10
Zugehörige Institution(en) am KIT Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Universität Karlsruhe (TH) – Zentrale Einrichtungen (Zentrale Einrichtungen)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2017
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0304-3991, 1879-2723
KITopen-ID: 1000063911
Erschienen in Ultramicroscopy
Verlag Elsevier
Band 173
Seiten 71–75
Nachgewiesen in Scopus
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