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Characteristics of superconducting tungsten silicide W$_x$Si$_{1-x}$ for single photon detection

Zhang, X.; Engel, A.; Wang, Q.; Schilling, A.; Semenov, A.; Sidorova, M.; Hübers, H.-W.; Charaev, I. 1; Ilin, K. 1; Siegel, M. 1
1 Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1103/PhysRevB.94.174509
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Zitationen: 46
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS)
Universität Karlsruhe (TH) – Interfakultative Einrichtungen (Interfakultative Einrichtungen)
Karlsruhe School of Optics & Photonics (KSOP)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2016
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 2469-9950, 2469-9969, 0163-1829, 0556-2805, 1094-1622, 1095-3795, 1098-0121, 1550-235X
KITopen-ID: 1000064052
Erschienen in Physical review / B
Verlag American Physical Society (APS)
Band 94
Heft 17
Seiten Art.Nr. 174509
Nachgewiesen in Dimensions
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