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Characteristics of superconducting tungsten silicide WxSi1-x for single photon detection

Zhang, X.; Engel, A.; Wang, Q.; Schilling, A.; Semenov, A.; Sidorova, M.; Hübers, H.-W.; Charaev, I.; Ilin, K.; Siegel, M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2016
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1103/PhysRevB.94.174509
ISSN: 2469-9950, 2469-9969, 0163-1829, 0556-2805, 1094-1622, 1095-3795, 1098-0121, 1550-235X
KITopen ID: 1000064052
Erschienen in Physical review / B
Band 94
Heft 17
Seiten Art.Nr. 174509
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