| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2016 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-5106-0325-7 ISSN: 0277-786X KITopen-ID: 1000064161 |
| HGF-Programm | 54.02.02 (POF III, LK 01) Ultraschnelle Datenauswertung |
| Erschienen in | Developments in X-Ray Tomography X, San Diego, CA, August 29-31, 2016. Ed.: S.R. Stock |
| Verlag | Society of Photo-optical Instrumentation Engineers (SPIE) |
| Seiten | 996715/1-9 |
| Serie | Proceedings of SPIE ; 9967 |