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Radiation hardness of two CMOS prototypes for the ATLAS HL-LHC upgrade project

Huffman, B.T.; Affolder, A.; Arndt, K.; Bates, R.; Benoit, M.; Bello, F. Di; Blue, A.; Bortoletto, D.; Buckland, M.; Buttar, C.; Caragiulo, P.; Das, D.; Dopke, J.; Dragone, A.; Ehrler, F.; Fadeyev, V.; Galloway, Z.; Grabas, H.; Gregor, I.M.; ... mehr



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2016
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1088/1748-0221/11/02/C02005
ISSN: 1748-0221
KITopen ID: 1000064239
HGF-Programm 54.02.03; LK 01
Erschienen in Journal of Instrumentation
Band 11
Heft 02
Seiten C02005
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