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Radiation hardness of two CMOS prototypes for the ATLAS HL-LHC upgrade project

Huffman, B. T.; Affolder, A.; Arndt, K.; Bates, R.; Benoit, M.; Bello, F. Di; Blue, A.; Bortoletto, D.; Buckland, M.; Buttar, C.; Caragiulo, P.; Das, D.; Dopke, J.; Dragone, A.; Ehrler, F. 1; Fadeyev, V.; Galloway, Z.; Grabas, H.; Gregor, I. M.; ... mehr


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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1088/1748-0221/11/02/C02005
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Zitationen: 4
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2016
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1748-0221
KITopen-ID: 1000064239
HGF-Programm 54.02.03 (POF III, LK 01) ASICs und Integrationstechnologien
Erschienen in Journal of Instrumentation
Verlag Institute of Physics Publishing Ltd (IOP Publishing Ltd)
Band 11
Heft 02
Seiten C02005
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