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International round robin test of the retained critical current after double bending at room temperature of Ag-sheathed Bi-2223 superconducting wires

Yamada, Y.; Nishijima, G.; Osamura, K.; Shin, H. S.; Goldacker, W. 1; Breschi, M.; Ribani, P.
1 Institut für Technische Physik (ITEP), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1088/0953-2048/29/2/025010
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Zitationen: 8
Web of Science
Zitationen: 6
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Zitationen: 8
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Physik (ITEP)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2015
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0953-2048, 1361-6668
KITopen-ID: 1000064332
HGF-Programm 37.06.02 (POF III, LK 01) New Power Network Technology
Erschienen in Superconductor science and technology
Verlag Institute of Physics Publishing Ltd (IOP Publishing Ltd)
Band 29
Heft 2
Seiten Art.Nr.: 025010
Nachgewiesen in Web of Science
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