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International round robin test of the retained critical current after double bending at room temperature of Ag-sheathed Bi-2223 superconducting wires

Yamada, Y.; Nishijima, G.; Osamura, K.; Shin, H.S.; Goldacker, W.; Breschi, M.; Ribani, P.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Physik (ITEP)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2015
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1088/0953-2048/29/2/025010
ISSN: 0953-2048, 1361-6668
KITopen ID: 1000064332
Erschienen in Superconductor science and technology
Band 29
Heft 2
Seiten Art.Nr.: 025010
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