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Verlagsausgabe
DOI: 10.5445/IR/1000064823
Veröffentlicht am 04.04.2018
Originalveröffentlichung
DOI: 10.21741/9781945291173-79

In-situ Monitoring of Laser Surface Line Hardening by Means of Synchrotron X-Ray Diffraction

Kiefer, D.; Gibmeier, J.; Beckmann, F.; Wilde, F.



Zugehörige Institution(en) am KIT Fakultät für Maschinenbau (MACH)
Institut für Angewandte Materialien - Werkstoffkunde (IAM-WK)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2016
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 2474-3941, 2474-395X
URN: urn:nbn:de:swb:90-648230
KITopen ID: 1000064823
Erschienen in Materials research proceedings
Band 2
Seiten 467 - 472
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