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In-situ Monitoring of Laser Surface Line Hardening by Means of Synchrotron X-Ray Diffraction

Kiefer, D.; Gibmeier, J.; Beckmann, F.; Wilde, F.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Werkstoffkunde (IAM-WK)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2017
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.21741/9781945291173-79
ISSN: 2474-3941
KITopen ID: 1000064823
Erschienen in Materials Research Proceedings
Band 2
Seiten 467 - 472
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