In-situ Monitoring of Laser Surface Line Hardening by Means of Synchrotron X-Ray Diffraction

Kiefer, D.; Gibmeier, J.; Beckmann, F.; Wilde, F.

Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Angewandte Materialien – Werkstoffkunde (IAM-WK)
Publikationstyp	Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr	2016
Sprache	Englisch
Identifikator	ISSN: 2474-3941, 2474-395X urn:nbn:de:swb:90-648230 KITopen-ID: 1000064823
Erschienen in	Materials research proceedings
Verlag	Materials Research Forum LLC
Band	2
Seiten	467 - 472
Nachgewiesen in	OpenAlex Dimensions

Verlagsausgabe

DOI: 10.5445/IR/1000064823

Veröffentlicht am 04.04.2018

Originalveröffentlichung
DOI: 10.21741/9781945291173-79

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