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In-situ Monitoring of Laser Surface Line Hardening by Means of Synchrotron X-Ray Diffraction

Kiefer, D.; Gibmeier, J.; Beckmann, F.; Wilde, F.


Verlagsausgabe §
DOI: 10.5445/IR/1000064823
Veröffentlicht am 04.04.2018
Originalveröffentlichung
DOI: 10.21741/9781945291173-79
Dimensions
Zitationen: 3
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien – Werkstoffkunde (IAM-WK)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2016
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 2474-3941, 2474-395X
urn:nbn:de:swb:90-648230
KITopen-ID: 1000064823
Erschienen in Materials research proceedings
Verlag Materials Research Forum LLC
Band 2
Seiten 467 - 472
Nachgewiesen in Dimensions
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