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The Measurement Symposium of the AHMT celebrates its 30th anniversary!

Froehlich, Thomas; Manske, Eberhard; Puente León, Fernando; Zagar, Bernhard


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2016
Sprache Deutsch
Identifikator ISSN: 0171-8096, 0178-2312, 0340-837X
KITopen-ID: 1000064932
Erschienen in Technisches Messen
Verlag De Gruyter
Band 83
Heft 9
Seiten 459-461
Nachgewiesen in Web of Science
Dimensions
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