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The Measurement Symposium of the AHMT celebrates its 30th anniversary!

Froehlich, Thomas; Manske, Eberhard; Leon, Fernando Puente; Zagar, Bernhard



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2016
Sprache Deutsch
Identifikator DOI: 10.1515/teme-2016-0021
ISSN: 0171-8096, 0178-2312, 0340-837X
KITopen ID: 1000064932
Erschienen in Technisches Messen
Band 83
Heft 9
Seiten 459-461
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