Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Elektroenergiesysteme und Hochspannungstechnik (IEH) |
Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
Publikationsjahr | 2016 |
Sprache | Englisch |
Identifikator | ISBN: 978-150903398-0 KITopen-ID: 1000064984 |
Erschienen in | 2016 International Conference on Condition Monitoring and Diagnosis, CMD 2016, Empark Grand HotelXi'an, China, 25 - 28 September, 2016 |
Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
Seiten | 651-654 |
Nachgewiesen in | Scopus Dimensions |