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Improvement of the line-resonance-analysis with several mathematical-detection-algorithms and filters

Maier, T.; Leibfried, T.; Merz, C.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Elektroenergiesysteme und Hochspannungstechnik (IEH)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2016
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1109/CMD.2016.7757906
ISBN: 978-150903398-0
KITopen ID: 1000064984
Erschienen in 2016 International Conference on Condition Monitoring and Diagnosis, CMD 2016, Empark Grand HotelXi'an, China, 25 - 28 September, 2016
Verlag IEEE
Seiten 651-654
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