| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Elektroenergiesysteme und Hochspannungstechnik (IEH) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2016 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-150903398-0 KITopen-ID: 1000064984 |
| Erschienen in | 2016 International Conference on Condition Monitoring and Diagnosis, CMD 2016, Empark Grand HotelXi'an, China, 25 - 28 September, 2016 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 651-654 |
| Nachgewiesen in | OpenAlex Dimensions Scopus |