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Quantitative in-situ TEM nanotensile testing of single crystal Ni facilitated by a new sample preparation approach

Samaeeaghmiyoni, Vahid; Idrissi, Hosni; Groten, Jonas 1; Schwaiger, Ruth 1; Schryvers, Dominique
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1016/j.micron.2016.12.005
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Zitationen: 19
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Zitationen: 19
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Werkstoff- und Biomechanik (IAM-WBM)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2017
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0968-4328, 0047-7206, 1878-1152, 1878-4291
KITopen-ID: 1000065021
HGF-Programm 43.22.01 (POF III, LK 01) Functionality by Design
Erschienen in Micron
Verlag Elsevier
Band 94
Seiten 66–73
Nachgewiesen in Dimensions
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