KIT | KIT-Bibliothek | Impressum

Quantitative in-situ TEM nanotensile testing of single crystal Ni facilitated by a new sample preparation approach

Samaeeaghmiyoni, Vahid; Idrissi, Hosni; Groten, Jonas; Schwaiger, Ruth; Schryvers, Dominique



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Werkstoff- und Biomechanik (IAM-WBM)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2017
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1016/j.micron.2016.12.005
ISSN: 0968-4328, 0047-7206, 1878-1152, 1878-4291
KITopen ID: 1000065021
Erschienen in Micron
Band 94
Seiten 66–73
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft KITopen Landing Page