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High-throughput data acquisition and processing for real-time X-ray imaging

Vogelgesang, M.; Rota, L.; Perez, L.E.A.; Caselle, M.; Chilingaryan, S.; Kopmann, A.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2016
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1117/12.2237611
ISBN: 978-151060325-7
ISSN: 0277-786X
KITopen ID: 1000065137
Erschienen in Developments in X-Ray Tomography X, San Diego, United States, 29 - 31 August, 2016
Auflage 9967
Verlag SPIE, San Diego
Seiten Art. Nr.: 996715
Serie Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
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