Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE) |
Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
Publikationsjahr | 2016 |
Sprache | Englisch |
Identifikator | ISBN: 978-151060325-7 ISSN: 0277-786X KITopen-ID: 1000065137 |
HGF-Programm | 54.02.02 (POF III, LK 01) Ultraschnelle Datenauswertung |
Erschienen in | Developments in X-Ray Tomography X, San Diego, United States, 29 - 31 August, 2016 |
Auflage | 9967 |
Verlag | Society of Photo-optical Instrumentation Engineers (SPIE) |
Seiten | Art. Nr.: 996715 |
Serie | Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering |
Nachgewiesen in | Dimensions Scopus |