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Uncertainty quantification in dimensional measurements by computed tomography due to uncertainty in data acquisition geometrical parameters

Ametova, E.; Ferrucci, M.; Chilingaryan, S.; McCarthy, M.; Dewulf, W.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2016
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 1000065180
Erschienen in 31st Annual Meeting of the American Society for Precision Engineering (ASPE), Portland, OR, USA; 23 - 28 October 2016
Verlag ASPE, Raleigh (NC)
Seiten 287-292
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