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Atom probe tomography (APT) Analysis of the Grain Boundary Region in Ba0.5Sr0.5Co0.8Fe0.2O3-δ (BSCF) and Ba0.5Sr0.5(Co0.8Fe0.2)0.9Y0.1O3-δ (BSCF10Y)

Unger, L.-S.; Kresse, T.; Wagner, J. N.; Niedrig, C.; Wagner, S. F.; Menesklou, W.; Ivers-Tiffée, E.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Werkstoffe der Elektrotechnik (IAM-WET)
Institut für Angewandte Materialien - Werkstoffkunde (IAM-WK)
Karlsruhe Nano Micro Facility (KNMF)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2016
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 1000065510
HGF-Programm 34.12.02; LK 01
Erschienen in E-MRS 2016 Spring Meeting, May 2-6, 2016, Lille, France
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