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Influence of Yttrium Doping on Ba0.5Sr0.5Co0.8Fe0.2O3-δ

Unger, L.-S.; Niedrig, C.; Meffert, M.; Baumann, S.; Störmer, H.; Menesklou , W.; Wagner, S. F.; Meulenberg, W. A.; Gerthsen, D.; Ivers-Tiffée, E.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Werkstoffe der Elektrotechnik (IAM-WET)
Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2015
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 1000065511
HGF-Programm 34.12.02; LK 01
Erschienen in 20th International Conference on Solid State Ionics, 14–19 June, 2015 Keystone, United States
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