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Röntgendiffraktometrische In-situ-Analysen an kationisch substituierten HT-MIEC auf Basis von BSCF5582

Sigloch, Fabian


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Werkstoffe der Elektrotechnik (IAM-WET)
Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Universität Karlsruhe (TH) – Zentrale Einrichtungen (Zentrale Einrichtungen)
Publikationstyp Hochschulschrift
Publikationsjahr 2016
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen-ID: 1000065522
HGF-Programm 34.12.02 (POF III, LK 01) Portfoliothema Gasseparationsmembranen
Verlag Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
Art der Arbeit Abschlussarbeit - Bachelor
Bemerkung zur Veröffentlichung Bachelorarbeit am IAM-WET, Dezember 2016
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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