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Röntgendiffraktometrische In-situ-Analysen an kationisch substituierten HT-MIEC auf Basis von BSCF5582

Sigloch, Fabian



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Werkstoffe der Elektrotechnik (IAM-WET)
Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Publikationstyp Hochschulschrift
Jahr 2016
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen ID: 1000065522
HGF-Programm 34.12.02; LK 01
Verlag KIT, Karlsruhe
Abschlussart Abschlussarbeit - Bachelor
Bemerkung zur Veröffentlichung Bachelorarbeit am IAM-WET, Dezember 2016
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