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Report of the 2016 Embedded Systems Week (ESWEEK)

Thiele, Lothar; Henkel, Jörg



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2017
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1109/MDAT.2016.2622718
ISSN: 2168-2356
KITopen ID: 1000065543
Erschienen in IEEE design & test
Band 34
Heft 1
Seiten 106 - 107
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