KIT | KIT-Bibliothek | Impressum
Originalveröffentlichung
DOI: 10.1017/S1431927612005478

In-situ Straining Analysis by TEM Orientation Mapping (EBSD-like TEM) - Direct Imaging of Deformation Processes in Nanocrystalline Metals

Kuebel, C.; Kobler, A.; Hahn, H.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2012
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1431-9276, 1435-8115
KITopen ID: 1000065548
Erschienen in Microscopy and microanalysis
Band 18
Heft S2
Seiten 724–725
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft KITopen Landing Page