In-situ Straining Analysis by TEM Orientation Mapping (EBSD-like TEM) - Direct Imaging of Deformation Processes in Nanocrystalline Metals
Kuebel, C.
1; Kobler, A. 1; Hahn, H. 1
1 Institut für Nanotechnologie (INT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Kobler, A. 1; Hahn, H. 11 Institut für Nanotechnologie (INT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Nanotechnologie (INT) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2012 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 1431-9276, 1435-8115 KITopen-ID: 1000065548 |
| Erschienen in | Microscopy and microanalysis |
| Verlag | Cambridge University Press (CUP) |
| Band | 18 |
| Heft | S2 |
| Seiten | 724–725 |
| Nachgewiesen in | Dimensions Scopus |