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In-situ Straining Analysis by TEM Orientation Mapping (EBSD-like TEM) - Direct Imaging of Deformation Processes in Nanocrystalline Metals

Kuebel, C. ORCID iD icon 1; Kobler, A. 1; Hahn, H. 1
1 Institut für Nanotechnologie (INT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1017/S1431927612005478
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Zitationen: 3
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Zitationen: 3
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2012
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1431-9276, 1435-8115
KITopen-ID: 1000065548
Erschienen in Microscopy and microanalysis
Verlag Cambridge University Press (CUP)
Band 18
Heft S2
Seiten 724–725
Nachgewiesen in Scopus
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