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Traceability in a Fine Grained Software Configuration Management System

Eyl, Martin; Reichmann, Clemens; Müller-Glaser, Klaus



Zugehörige Institution(en) am KIT Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik (ETIT)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2017
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1007/978-3-319-49421-0_2
ISBN: 978-3-319-49420-3
ISSN: 1865-1348
KITopen ID: 1000065551
Erschienen in Software Quality: Complexity and Challenges of Software Engineering in Emerging Technologies : 9th International Conference, SWQD 2017, Vienna, Austria, January 17-20, 2017. Ed.: D. Winkler
Auflage 1. ed.
Verlag Springer, Berlin
Seiten 15-29
Serie Lecture Notes in Business Information Processing ; 269
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