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Multicast Test Architecture and Test Scheduling for Interposer-Based 2.5D ICs

Wang, Shengcheng; Wang, Ran; Chakrabarty, Krishnendu; Tahoori, Mehdi B.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2016
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1109/ATS.2016.42
ISBN: 978-1-5090-3809-1
KITopen ID: 1000065641
Erschienen in IEEE 25th Asian Test Symposium (ATS), Hiroshima, Japan, 21–24 November 2016
Verlag IEEE, Piscataway (NJ)
Seiten 86–91
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