Multicast Test Architecture and Test Scheduling for Interposer-Based 2.5D ICs
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2016 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-5090-3809-1 KITopen-ID: 1000065641 |
| Erschienen in | IEEE 25th Asian Test Symposium (ATS), Hiroshima, Japan, 21–24 November 2016 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 86–91 |
| Nachgewiesen in | Dimensions Scopus |