Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
Publikationsjahr | 2016 |
Sprache | Englisch |
Identifikator | ISBN: 978-1-5090-3809-1 KITopen-ID: 1000065641 |
Erschienen in | IEEE 25th Asian Test Symposium (ATS), Hiroshima, Japan, 21–24 November 2016 |
Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
Seiten | 86–91 |
Nachgewiesen in | Scopus Dimensions |