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Multicast Test Architecture and Test Scheduling for Interposer-Based 2.5D ICs

Wang, Shengcheng 1; Wang, Ran; Chakrabarty, Krishnendu; Tahoori, Mehdi B. 1
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/ATS.2016.42
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Zitationen: 1
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Zitationen: 3
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2016
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-5090-3809-1
KITopen-ID: 1000065641
Erschienen in IEEE 25th Asian Test Symposium (ATS), Hiroshima, Japan, 21–24 November 2016
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten 86–91
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