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Effects of DC fault clearance methods on transients in a full-bridge monopolar MMC-HVDC link

Wenig, S. 1; Goertz, M. 1; Prieto, J. 1; Suriyah, M. 1; Leibfried, T. 1
1 Institut für Elektroenergiesysteme und Hochspannungstechnik (IEH), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/ISGT-Asia.2016.7796496
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Zitationen: 7
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Zitationen: 8
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Elektroenergiesysteme und Hochspannungstechnik (IEH)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2016
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-5090-4303-3
KITopen-ID: 1000065642
HGF-Programm 37.06.01 (POF III, LK 01) Networks and Storage Integration
Erschienen in IEEE Innovative Smart Grid Technologies - Asia (ISGT-Asia), Melbourne, Australia, 28 November–1 December 2016
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten 850–855
Nachgewiesen in Dimensions
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