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Effects of DC fault clearance methods on transients in a full-bridge monopolar MMC-HVDC link

Wenig, S.; Goertz, M.; Prieto, J.; Suriyah, M.; Leibfried, T.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Elektroenergiesysteme und Hochspannungstechnik (IEH)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2016
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1109/ISGT-Asia.2016.7796496
ISBN: 978-1-5090-4303-3
KITopen ID: 1000065642
Erschienen in IEEE Innovative Smart Grid Technologies - Asia (ISGT-Asia), Melbourne, Australia, 28 November–1 December 2016
Verlag IEEE, Piscataway (NJ)
Seiten 850–855
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