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About acquiring and processing light transport matrices for transparent object inspection

Meyer, J.; Längle, T.; Beyerer, J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Lehrstuhl IES Beyerer: Interaktive Echtzeitsysteme (Lehrstuhl IES Beyerer: Interaktive Echtzeitsysteme)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2016
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0171-8096, 0178-2312, 0340-837X
KITopen ID: 1000065661
Erschienen in Technisches Messen
Band 83
Heft 12
Seiten 731-738
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