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Aberration compensation and resolution improvement of focus modulation microscopy

Zheng, J.; Gao, P.; Shao, X.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Physik (APH)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2017
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1464-4258, 1741-3567, 2040-8978, 2040-8986
KITopen-ID: 1000065793
Erschienen in Journal of optics
Band 19
Heft 1
Seiten 015302
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