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Acquiring and processing light deflection maps for transparent object inspection

Meyer, J.; Langle, T.; Beyerer, J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Anthropomatik und Robotik (IAR)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2016
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1109/ICFSP.2016.7802965
ISBN: 978-1-5090-3814-5
KITopen ID: 1000065924
Erschienen in 2nd International Conference on Frontiers of Signal Processing (ICFSP), Warsaw, PL, October 15-17, 2016
Verlag IEEE, Piscataway, NJ
Seiten 104-109
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