KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Acquiring and processing light deflection maps for transparent object inspection

Meyer, J.; Langle, T.; Beyerer, J.



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/ICFSP.2016.7802965
Scopus
Zitationen: 2
Dimensions
Zitationen: 1
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Anthropomatik und Robotik (IAR)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2016
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-5090-3814-5
KITopen-ID: 1000065924
Erschienen in 2nd International Conference on Frontiers of Signal Processing (ICFSP), Warsaw, PL, October 15-17, 2016
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten 104-109
Nachgewiesen in Dimensions
Scopus
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page