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Soft X-Ray and Electron Spectroscopy: A Unique “Tool Chest” to Characterize the Chemical and Electronic Properties of Surfaces and Interfaces

Abou-Ras, Daniel; Kirchartz, Thomas; Rau, Uwe; Bär, Marcus; Weinhardt, Lothar; Heske, Clemens



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Photonenforschung und Synchrotronstrahlung (IPS)
Institut für Technische Chemie und Polymerchemie (ITCP)
Publikationstyp Buchaufsatz
Jahr 2011
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1002/9783527636280.ch15
ISBN: 978-3-527-33992-1
KITopen ID: 1000065995
Erschienen in Advanced Characterization Techniques for Thin Film Solar Cells. Hrsg.: D. Abou-Ras
Auflage 1
Verlag Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, Weinheim
Seiten 501-522
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