Soft X-Ray and Electron Spectroscopy: A Unique “Tool Chest” to Characterize the Chemical and Electronic Properties of Surfaces and Interfaces
Abou-Ras, Daniel; Kirchartz, Thomas; Rau, Uwe; Bär, Marcus; Weinhardt, Lothar
; Heske, Clemens
; Heske, Clemens
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Photonenforschung und Synchrotronstrahlung (IPS) Institut für Technische Chemie und Polymerchemie (ITCP) |
| Publikationstyp | Buchaufsatz |
| Publikationsjahr | 2011 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-3-527-33992-1 KITopen-ID: 1000065995 |
| Erschienen in | Advanced Characterization Techniques for Thin Film Solar Cells. Hrsg.: D. Abou-Ras |
| Auflage | 1 |
| Verlag | Wiley-VCH Verlag |
| Seiten | 501-522 |
| Nachgewiesen in | OpenAlex Scopus Dimensions |