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Simulation and analysis of void drift using sub-channel-analysis- and CFD-code

Pang, Bo; Cheng, X.; Otic, I.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nukleare Entsorgung (INE)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2012
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 1000065996
Erschienen in Jahrestagung Kerntechnik 2012, Stuttgart, 22.-24.Mai 2012
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