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Modellunterstützte Reduktion von Störgrößen in einem Messsystem zur Erfassung der Geräte-Werkstück-Wechselwirkungen

Matthiesen, Sven; Bruchmueller, Tim; Grauberger, Patric; Wettstein, Andreas



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Produktentwicklung (IPEK)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2015
Sprache Deutsch
Identifikator ISBN: 978-3-941492-93-6
KITopen ID: 1000066720
Erschienen in DFX 2015: Proceedings of the 26th Symposium Design for X. Hrsg.: K. Paetzold
Verlag TuTech Verlag, Hamburg
Seiten 157--168
Serie 26
Bemerkung zur Veröffentlichung 26th Symposium Design for X, DFX 2015; Herrsching; Germany; 7 October 2015 through 8 October 2015
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