Modellunterstützte Reduktion von Störgrößen in einem Messsystem zur Erfassung der Geräte-Werkstück-Wechselwirkungen
Matthiesen, Sven 1; Bruchmueller, Tim 1; Grauberger, Patric
1; Wettstein, Andreas 1
1 Institut für Produktentwicklung (IPEK), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Wettstein, Andreas 11 Institut für Produktentwicklung (IPEK), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Produktentwicklung (IPEK) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2015 |
| Sprache | Deutsch |
| Identifikator | ISBN: 978-3-941492-93-6 KITopen-ID: 1000066720 |
| Erschienen in | DFX 2015: Proceedings of the 26th Symposium Design for X. Hrsg.: K. Paetzold |
| Verlag | Tutech Verlag |
| Seiten | 157--168 |
| Serie | 26 |
| Bemerkung zur Veröffentlichung | 26th Symposium Design for X, DFX 2015; Herrsching; Germany; 7 October 2015 through 8 October 2015 |
| Nachgewiesen in | Scopus |