X-in-the-Loop in der Gerätebranche -Ein ganzheitliches Validierungsframework unter Berücksichtigung der Wechselwirkungen zwischen Anwender, Gerät und Anwendung

Matthiesen, Sven; Schaefer, Tobias; Mangold, Sebastian; Durow, Wasili; Organisation}, {Fraunhofer-Institut für Arbeitswirtschaft und [Hrsg.]; {SSP}

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Produktentwicklung (IPEK)
Publikationstyp	Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr	2013
Sprache	Deutsch
Identifikator	ISBN: 978-3-8396-0573-8 KITopen-ID: 1000066741
Erschienen in	Stuttgarter Symposium für Produktentwicklung 2013, Stuttgart, 20. Juni 2013; Konferenz; SSP 2013.
Verlag	Fraunhofer Verlag