Infrared deflectometry for the inspection of diffusely specular surfaces
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2016 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 2192-8584, 2192-8576 KITopen-ID: 1000066805 |
| Erschienen in | Advanced Optical Technologies |
| Verlag | De Gruyter |
| Band | 5 |
| Heft | 5-6 |
| Nachgewiesen in | Scopus OpenAlex Dimensions |