KIT | KIT-Bibliothek | Impressum

Infrared deflectometry for the inspection of diffusely specular surfaces

Höfer, Sebastian; Burke, Jan; Heizmann, Michael



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2016
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1515/aot-2016-0051
ISSN: 2192-8584, 2192-8576
KITopen ID: 1000066805
Erschienen in Advanced Optical Technologies
Band 5
Heft 5-6
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft KITopen Landing Page