KIT | KIT-Bibliothek | Impressum

Corrigendum to “In situ TEM study of twin boundary migration in sub-micron Be fibers” [Acta Mater. 96 (2015) 57–65]

Mompiou, F.; Legros, M.; Ensslen, C.; Kraft, O.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Computational Materials Science (IAM-CMS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2016
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1016/j.actamat.2016.02.055
ISSN: 1359-6454, 1873-2453
KITopen ID: 1000066994
Erschienen in Acta materialia
Band 109
Seiten 406-407
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft KITopen Landing Page