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Corrigendum to “In situ TEM study of twin boundary migration in sub-micron Be fibers” [Acta Mater. 96 (2015) 57–65]

Mompiou, F.; Legros, M.; Ensslen, C.; Kraft, O.



Zugehörige Institution(en) am KIT Fakultät für Maschinenbau (MACH)
Institut für Angewandte Materialien - Computational Materials Science (IAM-CMS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2016
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1359-6454, 1873-2453
KITopen ID: 1000066994
Erschienen in Acta materialia
Band 109
Seiten 406-407
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