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Next-Best-View method based on consecutive evaluation of topological relations

Dierenbach, K.O.; Weinmann, M.; Jutzi, B.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Photogrammetrie und Fernerkundung (IPF)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2016
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.5194/isprsarchives-XLI-B3-11-2016
ISSN: 1682-1750
KITopen ID: 1000067067
Erschienen in 23rd International Archives of the Photogrammetry, Remote Sensing and Spatial Information Sciences Congress, ISPRS 2016, Prague, CZ, July 12- 19, 2016. Ed.: L. Halounova
Verlag International Society for Photogrammetry and Remote Sensing
Seiten 11-19
Serie ISPRS Archives ; 41
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