Matching of micro gears via dimensional metrology and functional testing

Lanza, Gisela; Albers, A. ¹; Viering, Benjamin; Becke, C. ¹
¹ Institut für Produktentwicklung (IPEK), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Produktentwicklung (IPEK) Institut für Produktionstechnik (WBK)
Publikationstyp	Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr	2010
Sprache	Englisch
Identifikator	ISBN: 978-095530828-4 KITopen-ID: 1000067077
Erschienen in	10th International Conference of the European Society for Precision Engineering and Nanotechnology, EUSPEN 2010, Delft, Netherlands, 31. May - 4. June, 2010
Veranstaltung	10th International Conference of the European Society for Precision Engineering and Nanotechnology (EUSPEN 2010), Delft, Niederlande, 31.05.2010 – 04.06.2010
Verlag	European Society for Precision Engineering and Nanotechnology (euspen)
Seiten	51-54
Nachgewiesen in	Scopus