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Matching of micro gears via dimensional metrology and functional testing

Albers, A.; Becke, C.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Produktionstechnik (WBK)
Institut für Produktentwicklung (IPEK)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2009
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-095530828-4
KITopen ID: 1000067077
Erschienen in 10th International Conference of the European Society for Precision Engineering and Nanotechnology, EUSPEN 2010, Delft, Netherlands, 31. May - 4. June, 2010
Auflage 1
Verlag Euspen, Bedford
Seiten 51-54
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