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Low energy X-ray grating interferometry at the Brazilian Synchrotron

Koch, F. J.; O'Dowd, F. P.; Cardoso, M. B.; Da Silva, R. R.; Cavicchioli, M.; Ribeiro, S. J. L.; Schröter, T. J.; Faisal, A.; Meyer, P.; Kunka, D.; Mohr, J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2017
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1016/j.optcom.2017.02.055
ISSN: 0030-4018, 1873-0310
KITopen ID: 1000067520
Erschienen in Optics communications
Band 393
Seiten 195-198
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