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Low energy X-ray grating interferometry at the Brazilian Synchrotron

Koch, F. J. 1; O'Dowd, F. P.; Cardoso, M. B.; Da Silva, R. R.; Cavicchioli, M.; Ribeiro, S. J. L.; Schröter, T. J. 1; Faisal, A. 1; Meyer, P. 1; Kunka, D. 1; Mohr, J. 1
1 Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1016/j.optcom.2017.02.055
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Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Universität Karlsruhe (TH) – Interfakultative Einrichtungen (Interfakultative Einrichtungen)
Karlsruhe Nano Micro Facility (KNMF)
Karlsruhe School of Optics & Photonics (KSOP)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2017
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0030-4018, 1873-0310
KITopen-ID: 1000067520
HGF-Programm 43.23.02 (POF III, LK 01) X-Ray Optics
Erschienen in Optics communications
Verlag Elsevier
Band 393
Seiten 195-198
Nachgewiesen in Web of Science
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