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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1016/j.micron.2017.02.002
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Carbon contamination in scanning transmission electron microscopy and its impact on phase-plate applications

Hettler, Simon; Dries, Manuel; Hermann, Peter; Obermair, Martin; Gerthsen, Dagmar; Malac, Marek



Zugehörige Institution(en) am KIT Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2017
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0047-7206, 0968-4328, 1878-1152, 1878-4291
KITopen ID: 1000067529
Erschienen in Micron
Band 96
Seiten 38-47
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