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Carbon contamination in scanning transmission electron microscopy and its impact on phase-plate applications

Hettler, Simon 1; Dries, Manuel 1; Hermann, Peter 1; Obermair, Martin 1; Gerthsen, Dagmar 1; Malac, Marek
1 Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1016/j.micron.2017.02.002
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Zitationen: 34
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Zitationen: 37
Zugehörige Institution(en) am KIT Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Universität Karlsruhe (TH) – Zentrale Einrichtungen (Zentrale Einrichtungen)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2017
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0047-7206, 0968-4328, 1878-1152, 1878-4291
KITopen-ID: 1000067529
Erschienen in Micron
Verlag Elsevier
Band 96
Seiten 38-47
Nachgewiesen in Web of Science
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