Monitoring of stress–strain evolution in thin films by reflection anisotropy spectroscopy and synchrotron X-ray diffraction
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Materialien - Werkstoff- und Biomechanik (IAM-WBM) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2017 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0022-2461, 1573-4803 KITopen-ID: 1000067542 |
| HGF-Programm | 43.22.03 (POF III, LK 01) Printed Materials and Systems |
| Erschienen in | Journal of materials science |
| Verlag | Springer |
| Band | 52 |
| Heft | 11 |
| Seiten | 6741-6753 |
| Nachgewiesen in | OpenAlex Scopus Dimensions Web of Science |