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Estimating local Beckmann roughness for complex BSDFs

Holzschuch, Nicolas; Kaplanyan, Anton; Hanika, Johannes; Dachsbacher, Carsten



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Visualisierung und Datenanalyse (IVD)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2016
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1145/2897839.2927416
ISBN: 978-1-4503-4282-7
KITopen ID: 1000068021
Erschienen in ACM SIGGRAPH 2016 Talks, Anaheim, California, 24–28 July 2016
Verlag ACM Press, New York, New York (NY)
Seiten Art.Nr. a66
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