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Application and evaluation of optical distance measurements in geometrical quality testing of microgears

Albers, Albert 1; Duotai, Pan; Marxen, Leif 1; Becke, Claudia 1
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Produktentwicklung (IPEK)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2010
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1673-3479, 1673-3592
KITopen-ID: 1000068099
Erschienen in Frontiers of mechanical engineering in China
Verlag Springer Verlag
Band 5
Heft 3
Seiten 261-269
Nachgewiesen in Scopus
Dimensions
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