KIT | KIT-Bibliothek | Impressum

Application and evaluation of optical distance measurements in geometrical quality testing of microgears

Albers, Albert; Duotai, Pan; Marxen, Leif; Becke, Claudia



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Produktentwicklung (IPEK)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2010
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1007/s11465-010-0100-3
ISSN: 1673-3479, 1673-3592
KITopen ID: 1000068099
Erschienen in Frontiers of mechanical engineering in China
Band 5
Heft 3
Seiten 261-269
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft KITopen Landing Page