KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Application and evaluation of optical distance measurements in geometrical quality testing of microgears

Albers, Albert; Duotai, Pan; Marxen, Leif; Becke, Claudia



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Produktentwicklung (IPEK)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2010
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1673-3479, 1673-3592
KITopen-ID: 1000068099
Erschienen in Frontiers of mechanical engineering in China
Verlag Springer Verlag
Band 5
Heft 3
Seiten 261-269
Nachgewiesen in Dimensions
Scopus
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page