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Reliability-aware design to suppress aging

Amrouch, Hussam; Khaleghi, Behnam; Gerstlauerz, Andreas; Henkel, Jörg



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2016
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1145/2897937.2898082
ISBN: 978-1-4503-4236-0
ISSN: 0738-100X
KITopen ID: 1000068106
Erschienen in 53rd Annual ACM IEEE Design Automation Conference, DAC 2016; Austin Convention CenterAustin; United States; 5 June 2016 through 9 June 2016
Verlag ACM Press, New York (NY)
Seiten Art. Nr.: a12
Serie Proceedings - Design Automation Conference ; 05-09-June-2016
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