Reliability-aware design to suppress aging
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2016 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-4503-4236-0 ISSN: 0738-100X KITopen-ID: 1000068106 |
| Erschienen in | 53rd Annual ACM IEEE Design Automation Conference, DAC 2016; Austin Convention CenterAustin; United States; 5 June 2016 through 9 June 2016 |
| Verlag | Association for Computing Machinery (ACM) |
| Seiten | Art. Nr.: a12 |
| Serie | Proceedings - Design Automation Conference ; 05-09-June-2016 |
| Nachgewiesen in | Scopus Dimensions |